ナノスケール物性測定システム

区分
設備
分類
分析機器類
メーカー
パーク・システムズ・ジャパン / ハイジトロン
型式
XE-7 / TriboScope-1D
仕様及び性能
AFM機能
形状観察：ノンコンタクトモード
物性イメージング：磁気的特性（MFM）、電気的特性（EFM、SKPM、I-AFM）
最大スキャンエリア：（X）100 μm×（Y）100 μm×（Z）12 μm
最大試料寸法：100 mm×100 mm×20 mm厚

ナノインデンテーション機能
最大荷重：10 mN（荷重分解能：1 nN）
最大変位：5 μm（変位分解能：0.02 nm）
最大スキャンエリア：（X）100 μm×（Y）100 μm×（Z）12 μm
最大試料寸法：100 mm×100 mm×15 mm厚
　
※上記の仕様・性能は、カタログからの引用等ですので、実際に測定・試験ができる試料や測定物の種類・大きさ・形状等につきましては、担当職員までご確認ください。
用途
ナノスケールでの表面形状測定と同時に磁気的特性・電気的特性・粘弾性特性などの表面物性評価も可能です。さらにナノインデンテーション機能を付与したことにより力学特性の評価が可能です。
導入年
2015年 
画像
料金
7030円/時間
設置場所
福島県ハイテクプラザ（郡山）
予約・連絡先
024-959-1738
備考
県外企業は料金が2倍となります。詳しくは担当職員までご確認ください。