走査型電子顕微鏡

区分

設備

分類

分析機器類

メーカー

日本電子（株）

型式

JSM-5900LV

仕様及び性能

分解能 3．0nm（加速電圧30kV、WD8mm、二次電子像）
倍　率 ×18〜300，000
低真空モード 分解能 5．0nm（加速電圧30kV、WD5mm、反射電子像）
エネルギー分散型エックス線分析装置 型式JED-2200

※上記の仕様・性能は、カタログからの引用等ですので、実際に測定・試験ができる試料や測定物の種類・大きさ・形状等につきましては、担当職員までご確認ください。

用途

セラミックの微細構造観察や微小領域の定性、定量、面及び線分析を行ったり、素材開発や異物の不良解析

導入年

2001年 

画像

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料金

5720円/時間

設置場所

会津若松技術支援センター

予約・連絡先

0242-39-2978

備考

県外企業は料金が2倍となります。詳しくは担当職員までご確認ください。